Quang học
Nhiễu xạ ánh sáng
Quan sát nhiễu xạ Fraunhofer qua khe đơn dựng từ các nguồn Huygens, kiểm chứng điều kiện cực tiểu và độ rộng cực đại trung tâm .
⚠ Nếu tái hiện bằng bút laser, tuyệt đối không chiếu vào mắt hay bề mặt phản chiếu; nên chiếu hình nhiễu xạ lên màn khuếch tán.
Dụng cụ
- Mặt khe với các nguồn thứ cấp Huygens; màn cường độ
- Thanh trượt “Bước sóng λ”, “Khe rộng a”, “Khoảng màn L”
- Nút “Đặt lại tham số”
Các bước tiến hành
Quan sát hình nhiễu xạ hình thành
Giữ tham số mặc định và quan sát các sóng Huygens từ khe giao thoa trên màn: cực đại trung tâm sáng hai bên là các cực tiểu đối xứng và búp phụ yếu hơn. Đọc phổ cường độ và định vị cực tiểu thứ nhất.
Thu hẹp khe
Giảm thanh trượt độ rộng khe a và quan sát hình giãn ra — nghịch trực giác, khe càng hẹp nhiễu xạ càng mạnh. Đọc vị trí góc của cực tiểu thứ nhất và đối chiếu ; giảm a một nửa sẽ nhân đôi độ rộng .
Đổi λ và L
Quét thanh trượt bước sóng rồi khoảng màn L: toàn bộ hình tỉ lệ tuyến tính với cả hai, . Chọn một cấu hình, tính độ rộng khe từ độ rộng trung tâm đo được qua , và kiểm chứng với giá trị thanh trượt.